高低溫試驗箱的溫度校準方法有幾種,在實(shí)際工作中需要根據實(shí)際情況選擇合適的方法,我們對這幾種方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行分析。
在無(wú)負載條件下開(kāi)展校準:此方法的優(yōu)點(diǎn)是:高低溫試驗箱的整個(gè)工作區域都得到了校準、測試樣品變更時(shí)不需要重新校準、能夠對高低溫試驗箱的適用性做出有效的評估。而它的主要缺點(diǎn)是:不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。
在有負載條件下開(kāi)展校準:此方法的優(yōu)點(diǎn)是:能夠比較準確地評估測試樣品對試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。而它的主要缺點(diǎn)是:當更換測試樣品時(shí),需要重新校準。
在使用過(guò)程中的實(shí)時(shí)測量:此方法不僅具有1和2所述的方法具有的優(yōu)點(diǎn),而且能夠得到測試樣品在環(huán)境試驗過(guò)程中全面的環(huán)境參數,往往在對環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗時(shí)采用。它的主要缺點(diǎn)是:每次環(huán)境試驗都需要使用測量設備,通常在試驗箱校準時(shí)采用無(wú)負載條件下的校準方法,本文為了便于評估試驗箱的溫度性能,也采用了此方法進(jìn)行分析。
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