冷熱沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無(wú)一不需要它的理想測試工具. GB/T2423.1低溫試驗方法； GB/T2423.2高溫試驗方法； GB/T2423.22溫度變化試驗； GJB150.5溫度沖擊試驗； GJB360.7-87溫度沖擊試驗； GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。 SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱 SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱 IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化 GB/T2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則 GB/T2423.22-2002溫度變化 QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗一般規則 EIA364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估 | 
